Güterverzeichnis für Produktionsstatistiken, Ausgabe 2026

Klas­si­fi­ka­tions­struk­tur

2670 26 300 Teile und Zubehör für Instrumente, Apparate und Geräte zum Prüfen von Halbleiterscheiben und für andere Instrumente, Apparate, Geräte und Maschinen zum Messen oder Prüfen, optisch

Maßeinheit

EUR

Gegenüberstellung

wz2008 - gp_2026
wz2008 Inhalt gp_2026
Typ Schlüssel Titel Typ Schlüssel Titel
26.70.0 Herstellung von optischen und fotografischen Instrumenten und Geräten Herstellung von optischen und fotografischen Instrumenten und Geräten 2670 26 300 Teile und Zubehör für Instrumente, Apparate und Geräte zum Prüfen von Halbleiterscheiben und für andere Instrumente, Apparate, Geräte und Maschinen zum Messen oder Prüfen, optisch
gp_2026 - gp2019a
gp_2026 Inhalt gp2019a
Typ Schlüssel Titel Typ Schlüssel Titel
2670 26 300 Teile und Zubehör für Instrumente, Apparate und Geräte zum Prüfen von Halbleiterscheiben und für andere Instrumente, Apparate, Geräte und Maschinen zum Messen oder Prüfen, optisch Teile und Zubehör für Instrumente, Apparate und Geräte zum Prüfen von Halbleiterscheiben und für andere Instrumente, Apparate, Geräte und Maschinen zum Messen oder Prüfen, optisch 2670 26 300 für and. Instr., App. u. Geräte zum Messen o. Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) o. Halbleiterbauelementen o. zum Prüfen von Fotomasken o. Reticles für die Herstellung von Halbleiterbauelementen sowie für andere optische Instr., App. u. Geräte, a.n.g.

Stichwörter

  • Anschlagstopper, Teile für optische Längenmessgeräte für Passepartoumaschinen
  • Baugruppen, für Leiterplatten-Testmaschinen
  • Lasersendeelektronik, Teile für Laser-Sender
  • Messadapter, Teile für Laserdistanzsensoren

Ebene

Ebene 7: Güterunterkategorie_B