Product Classification for Production Statistics, issue 2026
Classification Structure
Skip classification structure2670 24 909 Belichtungsmesser, Stroboskope, optische Instrumente, Geräte und Maschinen zur Prüfung von Halbleiterscheiben oder -bauelementen (einschließlich integrierter Schaltkreise) oder zur Prüfung von Fotomasken oder Retikeln, die bei der Herstellung von Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltkreise) verwendet werden, Profilprojektoren und andere optische Instrumente, Geräte und Maschinen zum Messen oder Prüfen
Details
Unit of Measurement
St
Correspondence
wz2008 ⇄ gp_2026
wz2008 - gp_2026
| wz2008 | Content | gp_2026 | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Typ | Key | Title | Typ | Key | Title | |
| 26.70.0 | Manufacture of optical instruments and photographic equipment | ► DE | 2670 24 909 | Belichtungsmesser, Stroboskope, optische Instrumente, Geräte und Maschinen zur Prüfung von Halbleiterscheiben oder -bauelementen (einschließlich integrierter Schaltkreise) oder zur Prüfung von Fotomasken oder Retikeln, die bei der Herstellung von Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltkreise) verwendet werden, Profilprojektoren und andere optische Instrumente, Geräte und Maschinen zum Messen oder Prüfen | ||
gp_2026 ⇄ gp2019a
gp_2026 - gp2019a
| gp_2026 | Content | gp2019a | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Typ | Key | Title | Typ | Key | Title | |
| 2670 24 909 | Belichtungsmesser, Stroboskope, optische Instrumente, Geräte und Maschinen zur Prüfung von Halbleiterscheiben oder -bauelementen (einschließlich integrierter Schaltkreise) oder zur Prüfung von Fotomasken oder Retikeln, die bei der Herstellung von Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltkreise) verwendet werden, Profilprojektoren und andere optische Instrumente, Geräte und Maschinen zum Messen oder Prüfen | ► DE | 2670 24 909 | Belichtungsmesser, Stroboskope; Instr., App. u.Geräte zum Prüfen von Halbleiterscheiben (Wafers) oder Halbleiterbauelementen o. z. Prüfen von Fotomasken und Reticles für die H. v. Halbleiterbauelementen; Profilprojektoren u.a. opt. IAG z. Messen o. Prüfen | ||
Keywords
- Belichtungsmesser, Stroboskope, optische Instrumente, Geräte und Maschinen zur Prüfung von Halbleiterscheiben oder -bauelementen (einschließlich integrierter Schaltkreise) oder zur Prüfung von Fotomasken oder Retikeln, die bei der Herstellung von Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltkreise) verwendet werden, Profilprojektoren und andere optische Instrumente, Geräte und Maschinen zum Messen oder Prüfen
Level
Level 7: ► DE
© Statistische Ämter des Bundes und der Länder
This file was generated automatically. No liability is assumed for the accuracy of the content. If you need a legally binding expression, we would like to refer you to the publications of the Statistical Association.