Güterverzeichnis für Produktionsstatistiken, Ausgabe 2026
Klassifikationsstruktur
Klassifikationsstruktur überspringen2670 24 909 Belichtungsmesser, Stroboskope, optische Instrumente, Geräte und Maschinen zur Prüfung von Halbleiterscheiben oder -bauelementen (einschließlich integrierter Schaltkreise) oder zur Prüfung von Fotomasken oder Retikeln, die bei der Herstellung von Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltkreise) verwendet werden, Profilprojektoren und andere optische Instrumente, Geräte und Maschinen zum Messen oder Prüfen
Detailinformationen
Maßeinheit
St
Gegenüberstellung
wz2008 ⇄ gp_2026
wz2008 - gp_2026
| wz2008 | Inhalt | gp_2026 | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Typ | Schlüssel | Titel | Typ | Schlüssel | Titel | |
| 26.70.0 | Herstellung von optischen und fotografischen Instrumenten und Geräten | Herstellung von optischen und fotografischen Instrumenten und Geräten | 2670 24 909 | Belichtungsmesser, Stroboskope, optische Instrumente, Geräte und Maschinen zur Prüfung von Halbleiterscheiben oder -bauelementen (einschließlich integrierter Schaltkreise) oder zur Prüfung von Fotomasken oder Retikeln, die bei der Herstellung von Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltkreise) verwendet werden, Profilprojektoren und andere optische Instrumente, Geräte und Maschinen zum Messen oder Prüfen | ||
gp_2026 ⇄ gp2019a
gp_2026 - gp2019a
| gp_2026 | Inhalt | gp2019a | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Typ | Schlüssel | Titel | Typ | Schlüssel | Titel | |
| 2670 24 909 | Belichtungsmesser, Stroboskope, optische Instrumente, Geräte und Maschinen zur Prüfung von Halbleiterscheiben oder -bauelementen (einschließlich integrierter Schaltkreise) oder zur Prüfung von Fotomasken oder Retikeln, die bei der Herstellung von Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltkreise) verwendet werden, Profilprojektoren und andere optische Instrumente, Geräte und Maschinen zum Messen oder Prüfen | Belichtungsmesser, Stroboskope, optische Instrumente, Geräte und Maschinen zur Prüfung von Halbleiterscheiben oder -bauelementen (einschließlich integrierter Schaltkreise) oder zur Prüfung von Fotomasken oder Retikeln, die bei der Herstellung von Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltkreise) verwendet werden, Profilprojektoren und andere optische Instrumente, Geräte und Maschinen zum Messen oder Prüfen | 2670 24 909 | Belichtungsmesser, Stroboskope; Instr., App. u.Geräte zum Prüfen von Halbleiterscheiben (Wafers) oder Halbleiterbauelementen o. z. Prüfen von Fotomasken und Reticles für die H. v. Halbleiterbauelementen; Profilprojektoren u.a. opt. IAG z. Messen o. Prüfen | ||
Stichwörter
- Ampullenprüfmaschinen, mechanisch, mit optischer Vorrichtung
- Apparate, nicht elektronisch, zum Messen physikalischer Eigenschaften von Halbleitermaterial oder damit verbundenen isolierenden oder leitfähigen Schichten während der Herstellung von Wafern
- Autolensometer, Scheitelbrechwert- Messgerät
- Bahnbeobachtungssysteme
- Banknotenlesegeräte, bestehend aus einem Banknotenakzeptor mit Banknoteneinzugsvorrichtung und Sensorik, zum Einbau in Geldspielgeräte, Geldwechselautomaten und Warenverkaufsautomaten
- Banknotenlesegeräte, mit Fotosensoren
- Banknotenlesegeräte, zum optischen Prüfen von Geldscheinen
- Belichtungsmesser, Geräte für fotometrische Messungen
- Belichtungsmesser, Scannerbaugruppen
- Belichtungssteuergeräte
- Belichtungszeitrechner
- Berührungslose Bestückungs- und Vollständigkeitskontrollen, mit Kamerasystemen
- CCD-Mikrometer, optisches Messgerät, für Durchmessen von Breiten
- Distanzmessgeräte
- Dämpfungsmessgeräte, nicht für Fernmeldetechnik
- Encoder, zum Überwachen von Motoren, optisches Messgerät
- Endoskope, für technische Zwecke
- Faserlängenprüfgeräte, optische Messgeräte
- Fluchtfernrohre für Geländeeinmessungen
- Fluchtlaser für Gebäudeeinmessungen
- Fokussiergerät für Objektive
- Furnierpaketvermessungsanlage, optisch arbeitend
- Füllgutkontrollsysteme, mit CCD-Kamera, Colorvision
- Geldschein-Echtheitsprüfgeräte, optisch, für Banken und Wechselstuben
- Geldscheinprüfvorrichtungen, optisch, für Geldspielgeräte
- Geräte, optisch, zum Messen von Oberflächenpartverunreinigung von Wafern
- Geräte, optisch, zum Prüfen von Linienbreiten auf Wafern
- Geräte, zum Prüfen der Beschriftung von Wafern, optisch
- Gerätesysteme, zum optischen Messen von Strukturen der Schaltungsmuster von Halbleiterbauelementen
- Industrieproduktprüfgeräte
- Interferenzgeräte, optische Messinstrumente
- Justiergeräte, optische Messinstrumente
- Komparatoren, Profilprojektoren
- Laser-Abstandsensor, zum Messen von geometrischen Größen
- Laser-Scan-Mikrometer, optisches Messgerät
- Laserkameras, optische Geräte zum Messen von Abständen
- Lasermikrometer, optisch, nicht für den Handgebrauch, für die Produktionskontrolle
- Laserwegmesssenor, zur Abstandsmessung
- Laserwegmesssensor, zum optischen Messen von Abständen
- Lensometer, Scheitelbrechwert- Messgerät
- Lichtblitzstroboscope, Gerät zum Messen oder Prüfen
- Lichtdosiergeräte
- Lichtmessgeräte, Belichtungsmesser
- Messgeräte, für Bohrmaschinen und Fräswerke
- Messlupen
- Mikrolupen, zur Korngrößenmessung
- Mikrometer, Laser-Scan, optisches Messgerät
- Optische Geräte, sog. Wafer-Defect-Inspections-Systeme
- Optische Geräte, zum Messen der Menge und Lage von Wafern in Kassetten
- Optische Geräte, zum Messen oder Prüfen der Übertragungsqualität einer Lichtwelle
- Optische Geräte, zum Messen von Geschwindigkeit, Beschleunigung, Rotation
- Optische Geräte, zum Prüfen der Beschriftung von Wafern
- Optische Geräte, zum Prüfen von CD´s, MD´s, CD-ROM´s
- Optische Geräte, zum Prüfen von Halbleiterbauelementen
- Optische Geräte, zum Prüfen von Halbleiterscheiben
- Optische Geräte, zum Prüfen von Linienbreiten auf Wafern
- Positionier-/Wegmesssensor, optisch, zur Abstandsmessung
- Profilprojektoren
- Reflektometer, mit Laserlichtquelle
- Regiflexkontrollmaschinen für Druckzylinder
- Scheitelbrechwert-Messgerät, Autolensometer
- Scheitelbrechwertmesser, ohne solche die UV-Strahlen, sichtbares Licht oder Infrarotstrahlen verwenden
- Stroboskope
- TV-Inspektionssysteme, mit Kamerawagen, für Rohrsysteme
- Tabletteninspektionsmaschinen, videooptisch, zur Prüfung von Tabletten hinsichtlich ihrer Größe, Aufprägung, Färbung usw.
- Untersuchungsgeräte, für Biochips, nicht elektronisch
- Video-Endoskop, zum Messen oder Prüfen, für die visuale Inspektion
- Video-Prüfeinrichten, optische Geräte zur Prüfung von Dichtelementen
- Wafer-Dickenmeßgeräte, elektronisch, mit Positioniervorrichtung, mit optischen Verfahren arbeitend
- Wafer-Metallbahnbreitenmeßgeräte, mit optischen Messverfahren arbeitend
- Wafer-Oberflächenmessgeräte, mit optischen Verfahren arbeitend
- Waferinspektionssysteme, optische Geräte zur Erkennung von visuellen Oberflächen
- Warnsensor, zum Vermessen, Erfassen, Klassifizieren mit Laser
- Wegmess-/Postioniersensor, optisch, zur Abstandsmessung
- Wellenlängenstabilisatoren, optische Geräte zur Überwachung der Wellenlänge
- Werkzeugeinstellgeräte mit optischem Schneidenabtaster
- Wälzfräsermessmaschinen, mit optischer Vorrichtung
- Zahnschrägenprüfgeräte, mechanisch
- Zentrierfernrohre, nicht für Maschinen
Ebene
Ebene 7: Güterunterkategorie_B
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