Product Classification for Production Statistics, issue 2019
Classification Structure
Skip classification structure2670 26 300 für and. Instr., App. u. Geräte zum Messen o. Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) o. Halbleiterbauelementen o. zum Prüfen von Fotomasken o. Reticles für die Herstellung von Halbleiterbauelementen sowie für andere optische Instr., App. u. Geräte, a.n.g.
Details
Hauptgruppe: B (Investitionsgüterproduzenten)
Unit of Measurement
EUR
Correspondence
wz2025 ⇄ gp2019a
wz2025 - gp2019a
| wz2025 | Content | gp2019a | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Typ | Key | Title | Typ | Key | Title | |
| 26.70.1 | Manufacture of optical instruments and photographic equipment | 2670 26 300 | für and. Instr., App. u. Geräte zum Messen o. Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) o. Halbleiterbauelementen o. zum Prüfen von Fotomasken o. Reticles für die Herstellung von Halbleiterbauelementen sowie für andere optische Instr., App. u. Geräte, a.n.g. | |||
wz2008 ⇄ gp2019a
wz2008 - gp2019a
| wz2008 | Content | gp2019a | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Typ | Key | Title | Typ | Key | Title | |
| 26.70.0 | Manufacture of optical instruments and photographic equipment | ► DE | 2670 26 300 | für and. Instr., App. u. Geräte zum Messen o. Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) o. Halbleiterbauelementen o. zum Prüfen von Fotomasken o. Reticles für die Herstellung von Halbleiterbauelementen sowie für andere optische Instr., App. u. Geräte, a.n.g. | ||
gp_2026 ⇄ gp2019a
gp_2026 - gp2019a
| gp_2026 | Content | gp2019a | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Typ | Key | Title | Typ | Key | Title | |
| 2670 26 300 | Teile und Zubehör für Instrumente, Apparate und Geräte zum Prüfen von Halbleiterscheiben und für andere Instrumente, Apparate, Geräte und Maschinen zum Messen oder Prüfen, optisch | ► DE | 2670 26 300 | für and. Instr., App. u. Geräte zum Messen o. Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) o. Halbleiterbauelementen o. zum Prüfen von Fotomasken o. Reticles für die Herstellung von Halbleiterbauelementen sowie für andere optische Instr., App. u. Geräte, a.n.g. | ||
Keywords
- für and. Instr., App. u. Geräte zum Messen o. Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) o. Halbleiterbauelementen o. zum Prüfen von Fotomasken o. Reticles für die Herstellung von Halbleiterbauelementen sowie für andere optische Instr., App. u. Geräte, a.n.g.
Long Title
Teile und Zubehör für and. Instr., App. u. Geräte zum Messen o. Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) o. Halbleiterbauelementen o. zum Prüfen von Fotomasken o. Reticles für die Herstellung von Halbleiterbauelementen sowie für andere optische Instr., Apparate und Geräte, a.n.g.
Level
Level 8: ► DE
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