Produktklassifikationen Güterverzeichnis für Produktionsstatistiken

Güterverzeichnis für Produktionsstatistiken, Ausgabe 2019

Klas­si­fi­ka­tions­struk­tur

2670 26 300 für and. Instr., App. u. Geräte zum Messen o. Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) o. Halbleiterbauelementen o. zum Prüfen von Fotomasken o. Reticles für die Herstellung von Halbleiterbauelementen sowie für andere optische Instr., App. u. Geräte, a.n.g.

Hauptgruppe: B (Investitionsgüterproduzenten)

Maßeinheit

EUR

Gegenüberstellung

wz2025 - gp2019a
wz2025 Inhalt gp2019a
Typ Schlüssel Titel Typ Schlüssel Titel
26.70.1 Herstellung von optischen und fotografischen Instrumenten und Geräten 2670 26 300 für and. Instr., App. u. Geräte zum Messen o. Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) o. Halbleiterbauelementen o. zum Prüfen von Fotomasken o. Reticles für die Herstellung von Halbleiterbauelementen sowie für andere optische Instr., App. u. Geräte, a.n.g.
wz2008 - gp2019a
wz2008 Inhalt gp2019a
Typ Schlüssel Titel Typ Schlüssel Titel
26.70.0 Herstellung von optischen und fotografischen Instrumenten und Geräten für and. Instr., App. u. Geräte zum Messen o. Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) o. Halbleiterbauelementen o. zum Prüfen von Fotomasken o. Reticles für die Herstellung von Halbleiterbauelementen sowie für andere optische Instr., App. u. Geräte, a.n.g. 2670 26 300 für and. Instr., App. u. Geräte zum Messen o. Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) o. Halbleiterbauelementen o. zum Prüfen von Fotomasken o. Reticles für die Herstellung von Halbleiterbauelementen sowie für andere optische Instr., App. u. Geräte, a.n.g.
gp_2026 - gp2019a
gp_2026 Inhalt gp2019a
Typ Schlüssel Titel Typ Schlüssel Titel
2670 26 300 Teile und Zubehör für Instrumente, Apparate und Geräte zum Prüfen von Halbleiterscheiben und für andere Instrumente, Apparate, Geräte und Maschinen zum Messen oder Prüfen, optisch Teile und Zubehör für Instrumente, Apparate und Geräte zum Prüfen von Halbleiterscheiben und für andere Instrumente, Apparate, Geräte und Maschinen zum Messen oder Prüfen, optisch 2670 26 300 für and. Instr., App. u. Geräte zum Messen o. Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) o. Halbleiterbauelementen o. zum Prüfen von Fotomasken o. Reticles für die Herstellung von Halbleiterbauelementen sowie für andere optische Instr., App. u. Geräte, a.n.g.
gp2019a - gp2009v2012
gp2019a Inhalt gp2009v2012
Typ Schlüssel Titel Typ Schlüssel Titel
2670 26 300 für and. Instr., App. u. Geräte zum Messen o. Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) o. Halbleiterbauelementen o. zum Prüfen von Fotomasken o. Reticles für die Herstellung von Halbleiterbauelementen sowie für andere optische Instr., App. u. Geräte, a.n.g. ex 2651 85 209 Teile und Zubehör für andere Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen, a.n.g.

Stichwörter

  • Anschlagstopper, Teile für optische Längenmessgeräte für Passepartoumaschinen
  • Baugruppen, für Leiterplatten-Testmaschinen
  • Lasersendeelektronik, Teile für Laser-Sender
  • Messadapter, Teile für Laserdistanzsensoren

Langtitel

Teile und Zubehör für and. Instr., App. u. Geräte zum Messen o. Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) o. Halbleiterbauelementen o. zum Prüfen von Fotomasken o. Reticles für die Herstellung von Halbleiterbauelementen sowie für andere optische Instr., Apparate und Geräte, a.n.g.

Ebene

Ebene 8: Güterart