Güterverzeichnis für Produktionsstatistiken, Ausgabe 2019
Klassifikationsstruktur
Klassifikationsstruktur überspringen2651 45 002 Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (Wafers) oder Halbleiterbauelementen
Detailinformationen
Hauptgruppe: B (Investitionsgüterproduzenten)
Maßeinheit
St
Gegenüberstellung
wz2025 ⇄ gp2019a
wz2025 - gp2019a
| wz2025 | Inhalt | gp2019a | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Typ | Schlüssel | Titel | Typ | Schlüssel | Titel | |
| 26.51.1 | Herstellung von elektrischen Mess-, Kontroll-, Navigations- u. ä. Instrumenten und Vorrichtungen | 2651 45 002 | Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (Wafers) oder Halbleiterbauelementen | |||
wz2008 ⇄ gp2019a
wz2008 - gp2019a
| wz2008 | Inhalt | gp2019a | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Typ | Schlüssel | Titel | Typ | Schlüssel | Titel | |
| 26.51.1 | Herstellung von elektrischen Mess-, Kontroll-, Navigations- u. ä. Instrumenten und Vorrichtungen | Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (Wafers) oder Halbleiterbauelementen | 2651 45 002 | Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (Wafers) oder Halbleiterbauelementen | ||
gp_2026 ⇄ gp2019a
gp_2026 - gp2019a
| gp_2026 | Inhalt | gp2019a | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Typ | Schlüssel | Titel | Typ | Schlüssel | Titel | |
| 2651 49 010 | Instrumente und Apparate zum Messen oder Prüfen von Halbleiterwafern oder -geräten, einschließlich integrierter Schaltkreise | Instrumente und Apparate zum Messen oder Prüfen von Halbleiterwafern oder -geräten, einschließlich integrierter Schaltkreise | 2651 45 002 | Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (Wafers) oder Halbleiterbauelementen | ||
gp2019a ⇄ gp2009v2012
gp2019a - gp2009v2012
| gp2019a | Inhalt | gp2009v2012 | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Typ | Schlüssel | Titel | Typ | Schlüssel | Titel | |
| 2651 45 002 | Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (Wafers) oder Halbleiterbauelementen | 2651 45 200 | Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen | |||
Stichwörter
- Geräte, zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben, Wafern oder Halbleiterelementen
- Halbleiterelementprüf- und -messgeräte
- Halbleiterscheiben (wafers) - Prüf- und Messgeräte
- Messgeräte für Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterelemente
- Prüfgeräte für Halbleiterscheiben (wafers) und Halbleiterelemente
Langtitel
Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (Wafers) oder Halbleiterbauelementen
Ebene
Ebene 8: Güterart
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