Güterverzeichnis für Produktionsstatistiken, Ausgabe 2009
Klassifikationsstruktur
Klassifikationsstruktur überspringen2651 61 000 Nichtoptische Mikroskope sowie Diffraktografen
Detailinformationen
Hauptgruppe: B (Investitionsgüterproduzenten)
Maßeinheit
St
Gegenüberstellung
gp2019a ⇄ gp2009
gp2019a - gp2009
| gp2019a | Inhalt | gp2009 | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Typ | Schlüssel | Titel | Typ | Schlüssel | Titel | |
| 265161000 | Nichtoptische Mikroskope sowie Diffraktografen | 2651 61 000 | Nichtoptische Mikroskope sowie Diffraktografen | |||
gp2009v2012 ⇄ gp2009
gp2009v2012 - gp2009
| gp2009v2012 | Inhalt | gp2009 | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Typ | Schlüssel | Titel | Typ | Schlüssel | Titel | |
| 2651 61 000 | Nichtoptische Mikroskope sowie Diffraktografen | 2651 61 000 | Nichtoptische Mikroskope sowie Diffraktografen | |||
gp2009 ⇄ gp2002
gp2009 - gp2002
| gp2009 | Inhalt | gp2002 | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Typ | Schlüssel | Titel | Typ | Schlüssel | Titel | |
| 2651 61 000 | Nichtoptische Mikroskope sowie Diffraktografen | 3320 61 000 | Nichtoptische Mikroskope sowie Diffraktographen | |||
gp2009 ⇄ wz2008
gp2009 - wz2008
| gp2009 | Inhalt | wz2008 | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Typ | Schlüssel | Titel | Typ | Schlüssel | Titel | |
| 2651 61 000 | Nichtoptische Mikroskope sowie Diffraktografen | ex | 26.51.1 | Herstellung von elektrischen Mess-, Kontroll-, Navigations- u. ä. Instrumenten und Vorrichtungen | ||
Stichwörter
- Diffraktographen, nichtoptisch
- Elektronen-Mikroskope, mit angepassten Vorrichtungen zum Handhaben und Transportieren von Halbleiterscheiben oder Reticles
- Elektronen-Mikroskope, mit angepassten Vorrichtungen zum Handhaben und Transportieren von Wafern oder Reticles
- Elektronendiffraktographen, nichtoptisch
- Elektronenmikroskope, nichtoptisch
- Feldemissions-Rasterelektronenmikroskope
- Mikroskope, nichtoptisch
- Protonendiffraktionseinrichtungen, nichtoptisch
- Protonenmikroskope
- Protonenmikroskope, nichtoptisch
- Rasterelektronenmikroskope
- Rasterelektronenmikroskope, zur Darstellung unterschiedlicher Proben
- Spezialmikroskope, nicht optisch, zum Untersuchen von Uhrensteinen
- Ultraschallmikroskope
Langtitel
Nichtoptische Mikroskope sowie Diffraktografen
Ebene
Ebene 8: Güterart
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