Güterverzeichnis für Produktionsstatistiken, Ausgabe 2002

Klas­si­fi­ka­tions­struk­tur

3320 45 200 Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterelementen

Hauptgruppe: B (Investitionsgüterproduzenten)

Maßeinheit

St

Gegenüberstellung

gp2009v2012 - gp2002
gp2009v2012 Inhalt gp2002
Typ Schlüssel Titel Typ Schlüssel Titel
2651 45 200 Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen 3320 45 200 Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterelementen
gp2009 - gp2002
gp2009 Inhalt gp2002
Typ Schlüssel Titel Typ Schlüssel Titel
2651 45 200 Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen 3320 45 200 Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterelementen
gp2002 - wz2003
gp2002 Inhalt wz2003
Typ Schlüssel Titel Typ Schlüssel Titel
3320 45 200 Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterelementen ex 33.20.1 Herstellung von elektrischen Mess-, Kontroll-, Navigations- u.ä. Instrumenten und Vorrichtungen

Stichwörter

  • Geräte, zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben, wafers, oder Halbleiterelementen
  • Halbleiterelementprüf- und -messgeräte
  • Halbleiterscheiben (wafers) - Prüf- und Messgeräte
  • Messgeräte für Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterelemente
  • Prüfgeräte für Halbleiterscheiben (wafers) und Halbleiterelemente

Langtitel

Instrumente, Apparate und Geräte zum Messen oder Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterelementen

Ebene

Ebene 8: Güterart